Подбираем и поставляем под заказ решения Carl Zeiss / ZEISS для промышленности, лабораторий, R&D и контроля качества: координатно-измерительные машины, оптические и multisensor-системы, промышленные микроскопы, 3D-сканеры и metrology software, SEM/X-ray microscopy, оптические модули, объективы, аксессуары, запасные части и сервисные позиции. Работаем по B2B-запросам заводов, OEM-производителей, лабораторий, интеграторов, отделов снабжения, инструментальных производств, электроники, automotive, aerospace, medtech и общей высокоточной промышленности.
Carl Zeiss / ZEISS — известный технологический бренд в области industrial quality solutions, coordinate measuring machines, optical metrology, industrial microscopy, электронной микроскопии, рентгеновской микроскопии, программных решений и высокоточной оптики. Для B2B-заказчиков это не одна товарная группа, а целая экосистема решений для измерения, анализа, документирования, визуального контроля и исследования материалов.
На практике запросы по Carl Zeiss часто связаны с машиностроением, automotive, aerospace, инструментальным производством, электроникой, медтехникой, semiconductor, металлографией, контролем поверхности, анализом отказов, reverse engineering, лабораторными исследованиями, микроструктурным анализом и контролем геометрии изделий. Для снабжения и сервиса особенно важно корректно определить серию, конфигурацию, тип сенсора, совместимость ПО, интерфейсы, опции автоматизации, рабочее поле, разрешение и требования по точности.
Эта страница предназначена как рабочая B2B-точка входа по продукции Carl Zeiss: от координатно-измерительных машин и микроскопов до 3D-сканеров, metrology software, объективов, аксессуаров, запасных частей и специализированных решений под конкретную производственную или исследовательскую задачу.
| Категория | Модель / Артикул | Название | Применение |
|---|---|---|---|
| CMM | DuraMax | ZEISS DuraMax coordinate measuring machine | Компактный контроль геометрии на производстве, shopfloor и серийное измерение деталей |
| CMM | CONTURA | ZEISS CONTURA bridge-type CMM | Универсальная высокоточная метрология для машиностроения, automotive и tooling |
| CMM | ACCURA | ZEISS ACCURA high-precision CMM | Измерение сложных крупногабаритных деталей с повышенными требованиями к точности |
| CMM | PRISMO | ZEISS PRISMO ultra-precision CMM | Прецизионный контроль в aerospace, automotive, precision manufacturing и лабораториях |
| CMM | MICURA | ZEISS MICURA coordinate measuring machine | Высокоточный контроль малых деталей, часовых, медицинских и прецизионных компонентов |
| CMM | XENOS | ZEISS XENOS coordinate measuring machine | Сверхточные метрологические задачи и референсные измерения |
| CMM | MMZ T | ZEISS MMZ T horizontal-arm / gantry metrology platform | Крупные детали, кузовные элементы, tooling, штампы и пресс-формы |
| CMM | MMZ G | ZEISS MMZ G gantry coordinate measuring machine | Измерение больших и тяжёлых деталей, aerospace, energy и heavy industry |
| CMM | GageMax | ZEISS GageMax shopfloor CMM | Контроль на линии, серийные измерения и автоматизация QC-процессов |
| Optical metrology | O-INSPECT | ZEISS O-INSPECT multisensor metrology system | Комбинированный контактный и оптический контроль, электроника, plastics, medtech |
| Optical metrology | O-DETECT | ZEISS O-DETECT optical measurement machine | Быстрый визуально-измерительный контроль небольших и средних деталей |
| Optical metrology | ScanBox 4105 | ZEISS ScanBox 4105 automated optical measuring machine | Автоматизированный 3D-контроль небольших деталей и партийное сканирование |
| Optical metrology | ScanBox 5110 | ZEISS ScanBox 5110 optical measuring cell | Автоматизированный контроль средних деталей и off-line quality inspection |
| Optical metrology | ScanBox 6130 | ZEISS ScanBox 6130 optical measuring system | Сканирование и 3D-анализ крупных компонентов и сборочных единиц |
| 3D scanning | ATOS Q | ZEISS ATOS Q 3D scanner | Высокоточный 3D-контроль, reverse engineering и инспекция поверхностей |
| 3D scanning | ATOS 5 | ZEISS ATOS 5 industrial 3D scanner | Скоростное 3D-сканирование сложных поверхностей и серийных деталей |
| 3D scanning | ATOS 5X | ZEISS ATOS 5X high-end 3D scanning system | Контроль больших деталей, кузовных элементов, tooling и пресс-форм |
| 3D scanning | T-SCAN hawk 2 | ZEISS T-SCAN hawk 2 handheld laser scanner | Мобильное 3D-сканирование, reverse engineering, обслуживание и инспекция на объекте |
| Software | CALYPSO | ZEISS CALYPSO metrology software | Программирование и анализ измерений на CMM и multisensor-системах |
| Software | PiWeb | ZEISS PiWeb reporting and statistical quality software | Отчётность, SPC, анализ данных измерений и интеграция в QC-процессы |
| Software | ZEISS INSPECT | ZEISS INSPECT optical metrology software | Обработка 3D-данных, сравнение CAD, анализ отклонений и отчёты |
| Software | GOM Inspect | GOM Inspect by ZEISS metrology software | Анализ сеток, номинал-факт, reverse engineering и автоматизация контроля |
| Industrial microscopy | Smartzoom 5 | ZEISS Smartzoom 5 digital microscope | Быстрый визуальный контроль поверхности, электроника, отказный анализ и документация |
| Industrial microscopy | Axio Imager | ZEISS Axio Imager upright microscope | Материаловедение, металлография, лабораторный анализ и исследование структуры |
| Industrial microscopy | Axio Observer | ZEISS Axio Observer inverted microscope | Аналитика, research applications, работа с образцами и специализированные исследования |
| Industrial microscopy | Axiolab 5 | ZEISS Axiolab 5 microscope | Рутинная лабораторная микроскопия, education, QC и входной контроль |
| Industrial microscopy | Axioscope 5 | ZEISS Axioscope 5 microscope | Лабораторные исследования, документирование и комплексный микроскопический анализ |
| Industrial microscopy | Stemi 305 | ZEISS Stemi 305 stereo microscope | Инспекция, сборка, пайка, electronics и работа с небольшими компонентами |
| Industrial microscopy | Stemi 508 | ZEISS Stemi 508 stereo microscope | Точная визуальная инспекция, sample preparation и сервисные задачи |
| Microscopy optics | Plan-Apochromat | ZEISS Plan-Apochromat objectives | Высококачественная оптика для исследовательской и промышленной микроскопии |
| Microscopy optics | EC Epiplan-Neofluar | ZEISS EC Epiplan-Neofluar objectives | Промышленная reflected-light microscopy и анализ поверхностей |
| SEM | EVO 10 | ZEISS EVO 10 scanning electron microscope | Базовые SEM-задачи, лаборатории, QC и исследование материалов |
| SEM | EVO 15 | ZEISS EVO 15 scanning electron microscope | Универсальная электронная микроскопия для материаловедения и промышленного анализа |
| SEM | Sigma 360 | ZEISS Sigma 360 field emission SEM | Высокое разрешение, nanostructures, failure analysis и advanced research |
| SEM | GeminiSEM 300 | ZEISS GeminiSEM 300 field emission SEM | Высокоточная аналитическая электронная микроскопия и исследование поверхности |
| Crossbeam | Crossbeam 350 | ZEISS Crossbeam 350 FIB-SEM | Sample preparation, cross-sectioning, nanofabrication и advanced materials analysis |
| X-ray microscopy | Xradia 520 Versa | ZEISS Xradia 520 Versa X-ray microscope | 3D non-destructive imaging, internal structure analysis и micro-CT исследования |
| X-ray microscopy | Xradia 610 Versa | ZEISS Xradia 610 Versa X-ray microscope | Высокое разрешение и неразрушающий анализ сложных образцов и материалов |
| Confocal / imaging | LSM 900 | ZEISS LSM 900 confocal microscope | Исследовательские imaging-задачи и advanced laboratory applications |
| Confocal / imaging | LSM 980 | ZEISS LSM 980 confocal microscope | Высокопроизводительная конфокальная микроскопия и сложные imaging workflows |
| Accessories | VAST XT gold | ZEISS VAST XT gold tactile scanning sensor | Высокоточное сканирующее измерение на CMM и сложные геометрические элементы |
| Accessories | VAST XXT | ZEISS VAST XXT scanning sensor | Контактная метрология, сканирование и измерение на координатных машинах |
| Accessories | RDS | ZEISS RDS articulating probe holder | Гибкая ориентация датчиков и stylus-систем для сложных измерительных программ |
| Accessories | Stylus System | ZEISS stylus and probe accessories | Оснастка для CMM, индивидуальные конфигурации наконечников и измерительных систем |
| Automation | ZEISS Integration Series | ZEISS automated metrology integration solutions | Встраивание метрологии в автоматические линии и производственные ячейки |
Если у вас есть запрос по координатно-измерительным машинам, optical metrology, 3D-сканерам, промышленным микроскопам, SEM, X-ray microscopy, программному обеспечению, объективам, датчикам, аксессуарам или сервисным позициям Carl Zeiss, отправьте исходные данные любым удобным способом. Чем точнее модель, конфигурация и параметры задачи, тем быстрее можно перейти к предметному расчету.